A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀

Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ，在全球同類產品中都處于先地位。
大量程激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。

1. 分析方法：激光散射/激光衍射
2. 濕法測量范圍：0.01 - 2000 µm
3. 測量時間：5-10 s（單一測量時測量值記錄）；2 min（整個測量循環）
4. 分析樣品回路體積：300-500ml，可調節容積, 可調速徑向泵
5. 測量周期：2min
6. 光學排列：反傅立葉設計，活動的測量元件（FRITSCH*利）
7. 測量通道：165
8. 測量結果的重xian性：≤0.5％
9. 光源：波長532nm 2束、波長940 nm 1束
10. 雙激光三束設計：綠光、紅色雙激光測量光束，綠色激光束背向補償
11.傅里葉透鏡：260mm和560mm焦距（綠光或紅外線）
12.軟件：采用FRITSCH MaS控制軟件，用于控制，記錄和評估測量結果
13.符合國際ISO13320標準

主要特點：

1. 大量程激光粒度儀A22 MicroTec Plus，可替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀
2. 雙激光三束設計: 綠光2束 (532nm)， 紅色激光1束 (940nm)
3. *的曲光系統
4. 雙測量位置
5. 測量時間10 sec.
6. 高效的自動光束測量陣列
7. 測量系統和濕法分散系統單獨分開
8. 適用于在水相及大多數有機相（例如異丙醇） 中使用
9.可調節容積, 通過電腦可實現選擇：300、400、500ml
10.測量單元使用 Cardridge-like 設計，易于轉換改變
11.可調節的超聲波探頭
12.無須使用攪拌器